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  Shanghai Haijiang NanoSci & Tech Co. Ltd
 
   

                       
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主要產品

KLA-Tencor公司
超微力臺階儀/膜厚儀

(用于薄膜,厚膜FPD(LCD,TP,CF),MEMS
太陽能,LED,光電子...)

XP-1/XP-2
XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300
α-step IQ(100,200,250,500
)
α-step
P6
α-step
P16+(P1,P2,P10,P11,P11,P15)
α-step P16+0F

KLA-Tencor公司
光學輪廓儀
(白光干涉/ 移相干涉儀)

MicroXam 100
MicroXam 1200

膜厚
摩擦學
超精密光學及機械加工表面

MEMS
太陽能
LED(PSS)
光電子
器件
LCD

Filmetrics公司
光譜式反射膜厚儀

單點測量:F20,F10-RT,F10-AR,
      PAR
TS,F10-HC,F10-PA,F70
顯微鏡微斑測量:
      F40,F40-UV,F40-NSR,F42

自動測量:
      F50,F60-t,F60-c,F80t,F80-c

在線測量:F30,F37

深紫外/可見光/近紅外
測量: 光刻膠(含100um以上厚膠),PI,
    SiO2,SiN,Pol
ymer,...

 

MNC公司
MN-1光譜色散3D輪廓儀

測量三維形貌,微納結構
測量平整度,波度,翹曲度
測量納米級粗糙度
測量基片/基板/箔片的厚度
測量大型異型件(球面,非球面)

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MNC公司
MN-2 太陽能及濕膜厚度測量

厚膜電路
絲網印刷
太陽能
太陽能絨面
粗糙度,平整度
TSV孔


 

MNC公司
MN-3 PCB板膜厚測量設備

金屬膜層
綠油
TSV深孔
粗糙度,平整度
在線厚度檢測

 

MNC公司
GT-100 玻璃厚度測試儀

測量玻璃厚度
測量TTV
在線測量
適用于其他透明材料

Stil公司
共焦傳感器

共焦傳感器
共焦
輪廓儀
厚度測試儀


The AFM Workshop
原子力顯微鏡

TS-AFM型小樣品原子力顯微鏡
NP-AFM型大樣品原子力顯微鏡   
SA-AFM型原子力顯微鏡 (可用于倒置光學顯微鏡/TERS)

設計和源代碼公開
開放式的SPM平臺
XY線性壓電掃描器

 


SOPRA公司
GES5E光譜式橢偏儀

極深紫外光譜式橢偏儀
深紫外光譜式橢偏儀
可見光光譜式橢偏儀
近紅外光譜式橢偏儀
紅外光譜式橢偏儀
橢偏
孔隙率儀(薄膜孔隙率測量)
與X射線聯用橢偏儀
半導體用全自動工業橢偏儀
FPD用全自動工業橢偏儀
Solar用全自動工業橢偏儀

 

MNC公司 WT-100
半導體襯底厚度測量設備

Si
蘭寶石Al2O3
玻璃/LCD大尺寸玻璃
光學晶體
SiC
GaAs
單/多晶太陽能硅片
背減薄厚度測試
粗糙度,平整度
在線厚度檢測

 

探針種類:
全球最尖的1nm探針
導電探針
金剛石探針
力標定探針
深寬比探針
CNT探針
磁力探針
化學探針
無針尖懸臂梁
特殊探針

 

原子力顯微鏡
探針資料

NanoSensors

原子力顯微鏡
探針資料

NanoWorld

原子力顯微鏡
探針資料

BudgetSensor

原子力顯微鏡
探針資料

MikroMasch

 


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Applied Nano

 

 
   


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